产品描述
镀层测厚仪器 Ux-720
产品功能：
1. Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪，采用可以分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界良好。
2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
3. Ux-720微移动平台和可以清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。
4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提可以了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、和测量的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的**。
5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。
6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便捷，有助于提升效率。
设计科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全可以于国标GBZ115-2002要求。
7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
可以压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
1、仪器概述
镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是ROHS检测仪集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果加。
2、性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
可以精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用可以度定位激光，可自动定位测试可以度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
可以分辨率探头使分析结果加
良好的射线屏蔽作用
测试口可以度敏感性传感器保护
3、技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性可以
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
1、仪器概述
EDX600是集ROHS检测仪仪器多年贵金属检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作加轻松完成。
EDX600贵金属检测仪使用而实用的正比计数盒探测器，以实在的ROHS检测仪仪器定位，满足贵金属的成分检测的要求，且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作人性化、方便。
2、性能优势
贵金属检测、镀层厚度检测
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
3、技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm
分析含量一般为：1ppm到99.9%
多次测量重复性可达：0.1%
长期工作稳定性为：0.1%
外观尺寸：430×380×355mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg
4、标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
可以低压电源
X光管
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